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技術(shù)文章

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淺談邊界掃描技術(shù)的應(yīng)用 2016/7/18

技術(shù)前沿
在現(xiàn)代電子應(yīng)用系統(tǒng)中，印刷電路板越來越復(fù)雜，多層板的設(shè)計越來越普遍，大量使用各種表貼元件和BGA(ball grid array) 封裝元件，元器件的管腳數(shù)和管腳密度不斷提高，使用萬用表、示波器測試芯片的傳統(tǒng)“探針”方法已不能滿足要求。在這種背景下，早在20世紀(jì)80年代，聯(lián)合測試行動組(joint test action group，簡稱JTAG) 起草了邊界掃描測試(boundary-scan testing，簡寫B(tài)ST)規(guī)范，后來在1990年被批準(zhǔn)為IEEE標(biāo)準(zhǔn)1149.1-1990規(guī)定，簡稱JTAG標(biāo)準(zhǔn)。

邊界掃描測試有兩大優(yōu)點：一個是方便芯片的故障定位，迅速準(zhǔn)確地測試兩個芯片管腳的連接是否可靠，提高測試檢驗效率；另一個是，具有JTAG接口的芯片，內(nèi)置一些預(yù)先定義好的功能模式，通過邊界掃描通道來使芯片處于某個特定的功能模式，以提高系統(tǒng)控制的靈活性和方便系統(tǒng)設(shè)計?，F(xiàn)在，所有復(fù)雜的IC 芯片幾乎都具有JTAG控制接口，JTAG控制邏輯簡單方便，易于實現(xiàn)。

為什么需要邊界掃描？
1.利用JTAG編程口即可對被測板進(jìn)行無損傷測試
2.自動生成測試向量，無需人工寫測試邏輯
3.邊界掃描器件之間互連線可以實現(xiàn)故障診斷
4.可進(jìn)行測試覆蓋率分析
5.可對邊掃器件周圍的存儲器、總線芯片等進(jìn)行測試
6.對FPGA、CPLD、FLASH進(jìn)行在線編程

邊界掃描產(chǎn)品與應(yīng)用
泛華選用德國GOEPEL公司的邊界掃描產(chǎn)品，針對待測電路板的復(fù)雜程度和測試效率要求不同，提供多個產(chǎn)品系列選擇，包括：適用于演示教學(xué)的PicoTAP系列、適用于簡單電路板測試的SCANBOOSTER系列以及適用于大規(guī)模復(fù)雜電路板測試的SCANFLEX系列，該系列可以擴(kuò)展到16個TAP口，實現(xiàn)并行高效測試。

泛華率先將邊界掃描技術(shù)應(yīng)用到電路板測試實際項目中，具有大量項目經(jīng)驗，能夠最大程度將邊界掃描技術(shù)與電路板測試相結(jié)合，具有高效、可靠、價優(yōu)的特點。

電路板功能測試臺Polaris
電路板功能測試臺Polaris是一款基于泛華十多年柔性測試經(jīng)驗，以虛擬儀器技術(shù)為核心的電路板功能測試平臺。平臺集成示波器、波形發(fā)生器、數(shù)字萬用表、可編程數(shù)字I/O、程控電源、多路復(fù)用器、矩陣開關(guān)、CAN總線、RS485/RS232等電路板測試常用儀器和通訊總線，同時用戶可根據(jù)需求選配邊界掃描技術(shù)，可以最大限度地滿足用戶對各種待測電路的模擬/數(shù)字信號、靜態(tài)/動態(tài)信號的采集與測試，并通過軟件進(jìn)行定性或定量的分析。