邊界掃描測試有兩大優(yōu)點:一個是方便芯片的故障定位,迅速準確地測試兩個芯片管腳的連接是否可靠,提高測試檢驗效率;另一個是,具有JTAG接口的芯片,內(nèi)置一些預(yù)先定義好的功能模式,通過邊界掃描通道來使芯片處于某個特定的功能模式,以提高系統(tǒng)控制的靈活性和方便系統(tǒng)設(shè)計?,F(xiàn)在,所有復(fù)雜的IC 芯片幾乎都具有JTAG控制接口,JTAG控制邏輯簡單方便,易于實現(xiàn)。
技術(shù)服務(wù)熱線:400-635-4800