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IC芯片表面標(biāo)記檢測(cè)系統(tǒng)

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功能簡(jiǎn)介:

字符檢測(cè)系統(tǒng)是一套基于機(jī)器視覺(jué)的圖像檢測(cè)系統(tǒng),用于檢測(cè)IC芯片表面標(biāo)記的正確性、清晰性和IC芯片表面的損傷度。
使用范圍:
本字符檢測(cè)系統(tǒng)中所采用的新技術(shù)除了可應(yīng)用于各類型印刷符號(hào)檢測(cè)外,也可用于PCB、汽車部件和電器等產(chǎn)品質(zhì)量檢查,在提高生產(chǎn)自動(dòng)化和產(chǎn)品生產(chǎn)率的同時(shí)降低了生產(chǎn)成本。
性能指標(biāo)
檢測(cè)速度:200~300ms/個(gè)
可持續(xù)時(shí)間:300小時(shí)(120G硬盤(pán))
可檢測(cè)字符:英文字符、數(shù)字、用戶自定義字符及符號(hào)
空間分辨率:0.1mm/pixd

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